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Zygo 8010-0105-02 ZMI-501 位移测量仪

  • 功能特点高精度测量能力:借助先进的外差干涉技术,能够精准测量位移的相对变化,对微小位移的检测精度可达亚纳米级,可有效满足半导体制造、精密光学元件加工等领域对高精度测量的严苛要求,确保产品质量与工艺精度。便捷的双轴测量配置:以独立机箱形式集成双轴测量功能,结构紧凑,便于安装与部署。在实际应用中,可同时对两个方向的位移或位置变化进行同步测量,极大提高了测量效率,尤其适用于需要多维度测量的复杂工件或系统。...
  • 产品详情

Zygo 8010 - 0105 - 02 ZMI - 501

一、概述

Zygo 8010 - 0105 - 02 ZMI - 501 属于高精度测量电子设备,在纳米级定位与位移测量领域扮演关键角色。作为 Zygo 在位移测量干涉仪产品线中的重要一员,它利用外差干涉仪技术,精准捕捉位置的相对变化,为众多对精度要求严苛的行业及科研项目提供核心测量支持。凭借在高精度测量领域多年的技术沉淀与市场验证,Zygo 8010 - 0105 - 02 ZMI - 501 在精密制造、科研实验等场景中备受青睐,助力实现微米乃至纳米级别的精准控制与测量 。

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二、技术参数

  1. 测量轴数与分辨率:该设备以独立机箱的便捷形式,提供双轴测量功能。在分辨率上,能够达到亚纳米级别,可精确分辨极其微小的位置变化,满足诸如半导体制造中对晶圆刻蚀深度、芯片间距等高精度测量需求 。
  1. 信号处理与传输:基于外差干涉原理,对来自由 ZMI™激光源驱动的干涉仪的光学信号进行处理,从而精准计算位移。其信号处理速度快,能够快速将测量数据以适配的通信协议进行传输,确保与外部系统(如运动控制系统、数据采集终端等)实现高速、稳定的数据交互,满足实时性测量与控制场景的需求。
  1. 激光源相关参数:所适配的 ZMI™激光源具备高度稳定的双频输出特性,基于成熟可靠的氦氖技术,这种激光源输出稳定性极高,为高精度位置测量奠定坚实基础。其波长稳定性、功率稳定性等指标均处于行业领先水平,保障在不同环境及长时间运行条件下,测量结果的准确性与一致性 。

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三、功能特点

  1. 高精度测量能力:借助先进的外差干涉技术,能够精准测量位移的相对变化,对微小位移的检测精度可达亚纳米级,可有效满足半导体制造、精密光学元件加工等领域对高精度测量的严苛要求,确保产品质量与工艺精度。
  1. 便捷的双轴测量配置:以独立机箱形式集成双轴测量功能,结构紧凑,便于安装与部署。在实际应用中,可同时对两个方向的位移或位置变化进行同步测量,极大提高了测量效率,尤其适用于需要多维度测量的复杂工件或系统。
  1. 高稳定性与可靠性:无论是内部的信号处理电路,还是外部的激光源系统,都采用了高品质材料与先进制造工艺,具备出色的抗干扰能力。在不同的环境条件(如温度、湿度波动,电磁干扰等)下,都能稳定运行,保证测量数据的可靠性与重复性 。
  1. 系统兼容性强:设计上充分考虑与多种外部系统的兼容性,可轻松与标准运动控制系统实现对接,方便将测量数据实时反馈至运动控制环节,实现闭环控制。同时,能与各类数据采集、分析软件协同工作,便于用户对测量数据进行进一步处理与分析 。

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四、应用场景

  1. 半导体制造领域:在半导体晶圆制造过程中,可用于精确测量晶圆的平整度、刻蚀深度、芯片在晶圆上的位置精度等关键参数。为光刻、蚀刻等工艺提供精准的数据支持,确保芯片制造的高精度与高良品率。例如,在芯片光刻环节,可实时监测光刻设备中晶圆台的位置变化,保障光刻图案的精准转移。
  1. 精密光学制造:在光学镜片、镜头等元件的生产中,可对镜片的表面轮廓、曲率半径变化、镜片在装配过程中的位移等进行高精度测量。帮助制造商及时调整加工工艺与装配流程,生产出符合严格光学性能标准的产品。如在非球面镜片加工时,实时测量镜片表面的轮廓偏差,指导后续的研磨与抛光工艺。
  1. 科研机构的精密实验:在高校、科研院所开展的纳米技术研究、微机电系统(MEMS)实验、高精度光学实验等项目中,作为关键测量设备,为科研人员提供精准的位移、位置测量数据。助力科研人员探索微观世界的物理现象与规律,推动前沿科学研究的进展。例如在研究材料的微观力学性能实验中,精确测量材料在微小外力作用下的位移变化 。

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五、常见故障及解决办法

  1. 测量数据偏差大或不稳定
    • 现象:多次测量同一位置或位移,得到的数据偏差超出正常范围,数据波动明显,无法保证测量精度。
    • 原因及解决办法
      • 激光源性能异常:检查激光源的输出功率是否稳定,波长是否发生漂移。若激光源老化或出现故障,导致输出不稳定,需及时联系 Zygo 官方维修人员,对激光源进行检测与维修,必要时更换新的激光源模块。
      • 干涉仪光路问题:查看干涉仪的光路是否对准,光学镜片是否有灰尘、污渍污染。重新校准干涉仪光路,使用专用的光学清洁工具与试剂,清洁镜片表面,确保光路畅通与准确,减少因光路问题导致的测量误差 。
  1. 设备无法与外部系统通信
    • 现象:与运动控制系统、数据采集软件等外部设备连接后,无法进行数据传输或通信中断。
    • 原因及解决办法
      • 通信接口故障:检查设备的通信接口(如串口、以太网口等)是否松动、损坏。重新插拔接口连接线缆,若接口硬件损坏,需更换相应的接口模块,并确保新接口与设备兼容。
      • 通信协议不匹配:确认设备与外部系统所采用的通信协议是否一致。若不一致,根据设备与外部系统的说明书,重新配置通信协议参数,使双方能够正常通信 。
  1. 设备启动异常
    • 现象:接通电源后,设备无任何反应,指示灯不亮,无法进入工作状态。
    • 原因及解决办法
      • 电源供应问题:检查电源插头是否插紧,电源适配器是否正常工作,输出电压是否符合设备要求。若电源适配器损坏,更换同规格的电源适配器;若设备内部电源电路出现故障,需由专业维修人员打开设备外壳,检查并修复内部电源电路。
      • 内部硬件故障:可能存在主板上的芯片损坏、电路短路等硬件问题。联系 Zygo 的专业技术支持人员,对设备进行全面的硬件检测,确定故障元件并进行更换 。

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