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SCANde INTELLISCANDE14-1064NM 振镜扫描系统

  • 激光适配与扫描范围适配激光波长:1064nm(红外波段,兼容调 Q、脉冲、连续波激光源),激光功率耐受50W(连续波)、100mJ(脉冲能量,脉宽 10ns-1ms),适配半导体加工常用的红外激光打标、划片设备;扫描视场(FOV):标配 100mm100mm(f-theta 透镜焦距 160mm),可选配 50mm50mm(焦距 80mm)、200mm200mm(焦距 320mm)视场,满足不同尺寸晶圆(如 8 英寸、12 英寸)及半导体器件的加工需求;定位精度:5μm(全视场范围内,2σ),重复定位精度 1μm(2σ),确保激光束在晶圆表面的定位偏差5μm,符合半导体激光划片(划片道宽度20μm)、打码(标记精度10μm)的精度要求。...
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SCANLAB intelli SCAN 14-1064NM

一、概述

SCANLAB intelli SCAN 14-1064NM 是高精度激光加工研发的振镜扫描系统,核心定位为 “1064nm 波长激光的高速、高精准扫描执行单元”,主要服务于半导体制造(如晶圆激光标记、激光划片、芯片封装激光打码)、精密电子(如 PCB 激光钻孔、FPC 激光切割)、医疗设备(如精密医疗器件激光雕刻)等对扫描精度、速度及稳定性要求极高的领域,是激光加工设备的核心组件,常与 AMAT 0100-71267 等半导体控制模块协同工作,承担 “激光束高精度定位 - 高速扫描 - 加工轨迹精准执行” 的关键任务。


该系统凭借 “微米级扫描精度 + 高动态响应 + 工业级稳定性” 的核心优势,在半导体先进制程(如 3nm 芯片封装激光打码)、高精度电子制造(如柔性屏激光切割)场景中具备不可替代的价值。其核心作用是解决激光加工中 “扫描精度不足导致加工良率低”“动态响应慢影响生产效率”“复杂轨迹扫描失真” 三大痛点,通过高刚性振镜结构、高精度位置传感器及先进控制算法,实现对 1064nm 波长激光(适配红外激光源,常用于金属、半导体材料加工)的 ±5μm 定位精度控制,扫描速度达 5m/s(直线扫描),当配合 AMAT 0100-71267 控制模块接收工艺参数指令时,可在 1ms 内完成扫描轨迹切换,避免因扫描偏差导致半导体器件报废(单颗芯片损失可达数十美元),保障高精度激光加工的高良率与高效率。


二、技术参数

(一)核心扫描性能参数

  1. 激光适配与扫描范围
    • 适配激光波长:1064nm(红外波段,兼容调 Q、脉冲、连续波激光源),激光功率耐受≤50W(连续波)、≤100mJ(脉冲能量,脉宽 10ns-1ms),适配半导体加工常用的红外激光打标、划片设备;
    • 扫描视场(FOV):标配 100mm×100mm(f-theta 透镜焦距 160mm),可选配 50mm×50mm(焦距 80mm)、200mm×200mm(焦距 320mm)视场,满足不同尺寸晶圆(如 8 英寸、12 英寸)及半导体器件的加工需求;
    • 定位精度:±5μm(全视场范围内,2σ),重复定位精度 ±1μm(2σ),确保激光束在晶圆表面的定位偏差≤5μm,符合半导体激光划片(划片道宽度≤20μm)、打码(标记精度≤10μm)的精度要求。
  1. 动态响应与速度参数
    • 扫描速度:直线扫描速度≤5m/s(基于 100mm×100mm 视场,轨迹长度 100mm),圆弧扫描速度≤3m/s(半径 50mm),满足半导体批量生产的高效率需求(如每小时可完成 1000 片 8 英寸晶圆的激光打码);
    • 响应时间:从接收控制指令到振镜启动扫描的延迟≤1ms,轨迹切换响应时间≤0.5ms,配合 AMAT 0100-71267 控制模块的参数指令输出(延迟≤1ms),实现 “指令下发 - 扫描执行” 的无缝衔接;
    • 最大角速度:500 rad/s(X/Y 轴振镜),最大角加速度:20,000 rad/s²,可快速完成复杂轨迹(如二维码、芯片 ID)的扫描,避免因加速度不足导致轨迹失真。
  1. 控制与通信参数
    • 控制接口:标配 RS232(波特率 115200bps)、以太网(10/100Mbps,支持 TCP/IP 协议)接口,兼容 SCANLAB 自家的 scanCONTROL 软件及第三方控制模块(如 AMAT 0100-71267),支持实时轨迹修正(通过以太网每 1ms 更新一次扫描参数);
    • 位置反馈:内置高精度光电位置传感器(分辨率 0.001°),实时采集振镜角度位置,通过 PID 闭环控制算法修正偏差,确保扫描轨迹精度;
    • 轨迹处理:支持 CAD 格式(DXF、AI)轨迹文件导入,内置轨迹平滑算法(如贝塞尔曲线优化),可消除高速扫描时的轨迹抖动(抖动幅度≤2μm)。


(二)物理与环境参数

  1. 物理规格
    • 尺寸:长 180mm× 宽 150mm× 高 85mm(不含 f-theta 透镜),重量约 1.8kg,采用紧凑型设计,可集成于半导体激光加工设备的狭小空间(如晶圆载台上方的激光头组件);
    • 安装方式:支持法兰盘固定(适配标准激光头安装接口),安装角度偏差≤±0.5°(避免因安装倾斜导致扫描视场偏移);
    • 冷却方式:自然冷却(环境温度≤40℃),可选配风冷散热(环境温度 40-50℃时启用,风量≥5m³/h),满足半导体洁净室无液冷的安装要求。
  1. 环境适应性
    • 工作温度:10℃~50℃,存储温度:-20℃~60℃,适配半导体洁净室(温度 15-40℃)及普通工业车间环境;
    • 湿度:20%~80% RH(无冷凝),符合半导体制造环境湿度要求,避免因潮湿导致内部电路短路;
    • 防护等级:IP54(机身)、IP65(光学窗口),可抵御洁净室中的微尘(Class 1000 级别)及轻微水汽,光学窗口采用增透膜(1064nm 波长透过率≥99%),减少激光能量损耗;
    • 抗振动与冲击:抗振动等级 5g(10Hz~2000Hz,符合 IEC 60068-2-6),可承受半导体加工设备运行时的轻微振动(如晶圆载台移动产生的振动);抗冲击等级 10g(11ms 脉冲,符合 IEC 60068-2-27),能抵御设备搬运、维护时的瞬时冲击;
    • 电磁兼容性(EMC):符合 EN 61000-6-2/EN 61000-6-4 标准,传导发射≤40dBμV(150kHz~30MHz),辐射发射≤30dBμV/m(30MHz~1GHz),避免对半导体设备中的敏感电路(如晶圆定位传感器、AMAT 控制模块)造成电磁干扰。

SCANde INTELLISCANDE14-1064NM SCANLAB.jpg

(三)可靠性与光学参数

  1. 可靠性指标
    • 平均无故障时间(MTBF)≥100,000 小时(Telcordia SR-332 标准,25℃),设计寿命≥5 年(匹配半导体激光加工设备的使用周期);
    • 振镜电机寿命:≥10,000 小时(连续运行,转速 100 rad/s),采用无刷直流电机,避免碳刷磨损导致的维护频繁问题;
    • 故障诊断:内置 “电机电流 - 位置传感器 - 通信链路” 三级诊断,可检测振镜卡滞(电机电流超过额定值 150%)、位置传感器信号丢失、通信中断等故障,诊断覆盖率≥95%,故障信息通过通信接口上传至控制模块(如 AMAT 0100-71267)。
  1. 光学性能
    • 扫描角度范围:±20°(X/Y 轴),对应 100mm×100mm 视场(焦距 160mm),可覆盖晶圆表面的全区域扫描;
    • 激光偏转角精度:±0.001°(全角度范围内),确保激光束在不同扫描角度下的定位偏差一致;
    • 光斑失真率:≤1%(全视场范围内),避免因光学系统失真导致的加工图形变形(如方形标记变为梯形)。


三、功能特点

(一)高精度扫描与轨迹优化,保障半导体加工良率

  1. 高刚性振镜与闭环控制:X/Y 轴振镜采用高刚性铝合金材质(热膨胀系数≤20×10⁻⁶/℃),配合高精度交叉滚子轴承(径向跳动≤1μm),减少高速扫描时的振镜形变;内置光电位置传感器(分辨率 0.001°),通过 PID 闭环控制(控制周期≤10μs)实时修正振镜角度偏差,确保全视场定位精度达 ±5μm。例如,在 12 英寸晶圆激光划片工艺中,intelli SCAN 14 配合 1064nm 脉冲激光,可在晶圆表面划出宽度 20μm、深度 50μm 的划片道,相邻划片道间距偏差≤3μm,避免划片偏差导致芯片破损;
  1. 复杂轨迹平滑处理:支持导入 CAD 格式的复杂加工轨迹(如芯片二维码、光刻对准标记),内置轨迹平滑算法,将折线轨迹优化为贝塞尔曲线,减少振镜启停次数(从每毫米 5 次降至 1 次),降低高速扫描时的轨迹抖动(抖动幅度从 10μm 降至 2μm)。例如,在芯片封装激光打码中,需在 1mm×1mm 区域内打刻 20×20 点阵的二维码,优化后扫描时间从 0.5s 缩短至 0.1s,且点阵偏差≤2μm,符合半导体器件的标识精度要求;
  1. 动态聚焦适配:可选配动态聚焦模块(焦距调节范围 ±10mm),可根据晶圆表面高度变化(如因翘曲导致的高度差≤5mm)实时调整激光聚焦位置,确保激光焦点始终落在晶圆表面,避免因聚焦偏差导致的加工深度不均(如划片深度偏差从 10μm 降至 3μm)。


(二)高动态响应与协同控制,提升生产效率

  1. 高速扫描与快速响应:振镜电机最大角速度达 500 rad/s、角加速度 20,000 rad/s²,直线扫描速度达 5m/s,配合≤1ms 的指令响应延迟,可实现半导体批量加工的高效率。例如,在 8 英寸晶圆激光打码工艺中,每片晶圆需打刻 1000 个芯片 ID(每个 ID 为 1mm×0.5mm 的字符),intelli SCAN 14 仅需 10 秒即可完成单片打码,每小时可处理 360 片晶圆,满足半导体工厂的量产需求;
  1. 与控制模块无缝协同:通过以太网接口与 AMAT 0100-71267 半导体控制模块实现实时数据交互,AMAT 模块下发 “扫描轨迹、激光功率、脉冲频率” 等工艺参数(延迟≤1ms),intelli SCAN 14 同步执行扫描动作,同时将 “实际扫描位置、完成状态” 等信息回传(延迟≤0.5ms),形成 “参数指令 - 扫描执行 - 状态反馈” 的闭环控制。例如,在晶圆激光修复工艺中,AMAT 模块检测到某芯片缺陷位置(X:100mm,Y:200mm),立即下发修复轨迹指令,intelli SCAN 14 在 1ms 内启动扫描,激光束精准定位至缺陷位置并完成修复,修复后回传 “完成” 信号,整个过程耗时≤5ms;
  1. 多任务并行处理:支持 “预加载轨迹” 功能,可提前缓存 3 组不同的加工轨迹(如打码、划片、修复轨迹),当 AMAT 模块下发轨迹切换指令时,无需重新导入轨迹文件,0.5ms 内即可完成切换,减少工艺切换时间(从 30 秒缩短至 0.5 秒)。例如,在半导体封装生产线中,同一台激光设备需依次完成 “芯片打码 - 引脚切割 - 封装检测标记” 三道工序,intelli SCAN 14 通过预加载轨迹,实现工序间无缝切换,提升生产线整体效率。


(三)工业级稳定与洁净室适配,适配半导体制造环境

  1. 抗干扰与长寿命设计:机身采用电磁屏蔽材质(屏蔽效能≥40dB),内部电路配备 TVS 瞬态抑制二极管(防护等级 ±2kV),可抵御半导体工厂中的电磁干扰(如射频电源、高压设备产生的干扰);振镜电机采用无刷设计,避免碳刷磨损产生的粉尘(符合洁净室 Class 1000 级别要求),同时减少维护频率(维护周期从 3 个月延长至 1 年);
  1. 洁净室兼容设计:表面采用防静电涂层(表面电阻 10⁶~10⁹Ω),避免静电吸附微尘;外壳采用无挥发、无颗粒脱落的阳极氧化铝材质(符合 SEMI S20 标准),光学窗口采用氟橡胶密封圈密封,防止微尘进入内部污染光学元件;自然冷却设计无需液冷管路,减少洁净室中的管路布置与泄漏风险;
  2. 远程监控与维护:支持通过 SCANLAB scanCONTROL 软件远程查看扫描系统状态(如振镜电机温度、位置传感器信号、通信状态),远程校准扫描精度(如通过标准校准板自动修正视场偏差),远程升级固件(通过以太网下载新固件,无需现场拆机),运维人员无需进入洁净室(需穿无尘服、风淋)即可完成维护,减少对生产的影响。

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